Initiation aux microscopies à champ proche : AFM (Atomic Force Microscope) et STM (Scanning Tunnelling Microscopy)

Cette formation, à la fois théorique et pratique, a pour but de comprendre les principes de fonctionnement de l’AFM et du STM.

Elle a aussi vocation à sensibiliser à l’interprétation des mesures (images, courbes de force, courbes I(V)…) et aux limitations des instruments. Il s’agira donc d’aboutir à une utilisation rationnelle du matériel tout en sachant exploiter les données expérimentales et reconnaître les artefacts de mesure.

La formation, qui alternera cours et de travaux pratiques, sera assurée par un ingénieur spécialiste du domaine. De plus, elle sera supportée par l’utilisation à la fois d’un dispositif pédagogique et d’un dispositif dédié à la recherche. Enfin, une formation à la carte est tout à fait possible, pour cela, nous consulter.

Méthodes

A l’issue de la formation : le stagiaire sera capable de comprendre les principes de fonctionnement des microscopes à sonde locale AFM et STM.

Cette formation permet aux individus de sécuriser leur parcours professionnel en leur donnant les compétences nécessaires pour accompagner les entreprises dans les enjeux liés à leur secteur d’activité et s’adapter aux évolutions technologiques associées.